Search for Research

Чем занимается

Ключевые темы по публикациям: Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis; Semiconductor materials and devices; VLSI and Analog Circuit Testing; Advanced Memory and Neural Computing; Radiation Effects in Electronics.

Последние работы

Все 21 в OpenAlex
  • Automated I–V measurement system for CMOS SOI transistor test structures2015 · аннотация

    The article discusses the creation of automated system for I-V measurements of CMOS SOI transistor test structures based on National Instruments PXI platform. The article describes the measurement system circuit diagram…

  • Nonstable Latchups in CMOS ICs Under Pulsed Laser Irradiation2020 · аннотация

    This article concerns experimental and simulation results on nonstable latchups (SLs) in CMOS integrated circuits (ICs) under pulsed laser irradiation. Different transient responses in elements of the p-n-p-n structure…

  • Measurement system for test memory cells based on keysight B1500A semiconductor device analyzer running LabVIEW software2017 · аннотация

    The Keysight B1500A semiconductor device analyzer based measurement system for test memory cells research is introduced. The connection of a device under test is described as well as the full list of the utilized…

  • SEL and cell failures in MRAM under ion and focused laser irradiation2017
  • Mechanisms of Initiation of Unstable Latchup Effects in CMOS ICs2019
  • USING THE SOCHI STAND TO CONFIRM THE IMMATIBILITY OF THE INTEGRATED CIRCUIT2025
  • Effects of space radiation on resistive memory and comparison with other types of non-volatile memory2022
  • Comparative analysis of tolerance to space ionizing radiation for ReRAM and other non-volatile memory types2022

Наукометрия

6h-index
21публикаций
69цитирований

Написать научруку

Email не найден в открытых источниках — поищи на странице вуза или в последних статьях.

Шаблон письма

Здравствуйте, Ivan I. Shvetsov-Shilovskiy! Я студент(ка) [курс, факультет, вуз]. Мне интересна тема [опишите интересы своими словами]. Прочитал(а) вашу работу «Automated I–V measurement system for CMOS SOI transistor test structures» (2015) — она близка к тому, чем я хочу заниматься. Хочу обсудить возможность выполнить научную работу под вашим руководством. Буду благодарен(на) за ответ — готов(а) рассказать о себе подробнее и прислать резюме. С уважением, [Имя Фамилия]

На этапе теста письмо отправляешь сам из своей почты. Отправка из сервиса и статусы заявок — скоро.